2019-12-11  -   标准号：GB/T 36359-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectron

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36360-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectron

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.11-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法 英文标准名称：Semicond

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.12-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动 英文标准名称：Semiconductor devices

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.13-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 英文标准名称：Semiconductor devices—Me

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.14-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性） 英文标准名称：Semicondu

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.15-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热 英文标准名称：Semicon

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.17-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照 英文标准名称：Semiconductor devices

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.18-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量) 英文标准名称：Semiconductor

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2019-12-10  -   标准号：GB/T 4937.19-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度 英文标准名称：Semiconductor dev

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