信息概要

电迁移可靠性测试是评估电子元器件在电流作用下金属导线或互连结构的电迁移现象的重要检测项目。电迁移可能导致器件性能退化甚至失效，因此该测试对确保产品的长期可靠性和稳定性至关重要。第三方检测机构通过设备和标准方法，为客户提供全面的电迁移可靠性测试服务，帮助优化产品设计并提升质量。

电迁移可靠性测试主要针对集成电路、半导体器件、电子封装等产品，通过模拟实际工作条件，检测金属导线的电迁移速率、失效时间等关键参数。该测试能够提前发现潜在缺陷，为产品改进提供数据支持，从而降低市场失效风险。

检测项目

• 电迁移失效时间
• 金属导线电阻变化率
• 电流密度临界值
• 温度加速因子
• 平均失效时间
• 电迁移激活能
• 金属层厚度变化
• 晶粒尺寸影响
• 应力迁移效应
• 界面扩散速率
• 空洞形成速率
• 电迁移寿命预测
• 金属线宽变化
• 接触电阻稳定性
• 热循环影响
• 湿度加速效应
• 电压偏置影响
• 材料成分分析
• 微观结构变化
• 多物理场耦合效应

检测范围

• 集成电路芯片
• 半导体器件
• 电子封装组件
• 微机电系统
• 功率器件
• 存储器芯片
• 逻辑器件
• 模拟电路
• 射频器件
• 传感器芯片
• 光电器件
• 混合信号电路
• 系统级封装
• 三维集成电路
• 柔性电子器件
• 功率模块
• 互连结构
• 焊球阵列
• 铜互连系统
• 铝互连系统

检测方法

• 恒流加速测试：通过施加恒定电流加速电迁移过程
• 恒压加速测试：在恒定电压下观察电迁移效应
• 温度循环测试：模拟温度变化对电迁移的影响
• 高温存储测试：评估高温环境下的电迁移行为
• 直流测试：使用直流电源进行长期可靠性评估
• 脉冲测试：模拟实际工作条件下的脉冲电流影响
• 四探针法：准确测量电阻变化
• 扫描电子显微镜观察：直接观察电迁移导致的微观结构变化
• 聚焦离子束分析：对失效部位进行准确分析
• X射线衍射分析：检测材料晶体结构变化
• 原子力显微镜测量：测量表面形貌变化
• 能谱分析：分析元素分布变化
• 热成像分析：检测局部热点形成
• 声学显微镜检测：发现内部空洞和缺陷
• 有限元模拟：通过数值模拟预测电迁移行为

检测仪器

• 高精度电源
• 恒温恒湿箱
• 半导体参数分析仪
• 四探针测试仪
• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• 聚焦离子束系统
• X射线衍射仪
• 原子力显微镜
• 能谱仪
• 红外热像仪
• 声学显微镜
• 探针台
• 高倍光学显微镜
• 材料分析系统

了解中析

实验室仪器

合作客户